描述：WQL粒度儀(微機(jī)）基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
詳細(xì)資料
WQL粒度儀(微機(jī)）詳細(xì)介紹
WQL粒度儀(微機(jī)）基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測(cè)定方式，使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
WQL粒度儀(微機(jī)）技術(shù)參數(shù)
轉(zhuǎn)速范圍：600～10000r/min
光信號(hào)穩(wěn)定性：0.2%/30min
可測(cè)粒度范圍：0.01～60μm
測(cè)試準(zhǔn)確度：5％ （使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣）
